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近红外光谱透反射性能测量系统

  • 产品型号:NSTAR-200
  • 更新时间:2024-07-18

简要描述:NSTAR-200 近红外光谱透反射性能测量系统
集透射和反射测量于一体典型应用场景
NSTAR-200近红外光谱透反射测量系统集反射和透射测量功能于一体,用于测量材料的光谱反射率/光谱透过率,测量波段范围覆盖780-1600nm。系统应用远方公司多项砖利技术,可快速精确测量近红外宽波段范围内光谱透反射率,系统测量灵敏度高,稳定性、复现性好,杂散光小,可满足较低透反射率的深色

产品详情
NSTAR-200 近红外光谱透反射性能测量系统
集透射和反射测量于一体,                                                                                                                                                                                        波段覆盖780-1600nm
典型应用场景
NSTAR-200近红外光谱透反射测量系统集反射和透射测量功能于一体,用于测量材料的光谱反射率/光谱透过率,测量波段范围覆盖780-1600nm。系统应用远方公司多项砖利技术,可快速精确测量近红外宽波段范围内光谱透反射率,系统测量灵敏度高,稳定性、复现性好,杂散光小,可满足较低透反射率的深色样品测量,主要用于各类材料研发实验室。
近红外光谱透反射性能测量系统
主要特点
1、兼容反射和透射测量:反射测量d/8,SCI和SCE可选;透射测量为d/0几何。
近红外光谱透反射性能测量系统
 2、配高性能光谱反射率板,溯源性好。
3、稳定性好,测量精度高,满足较低透反射率的深色样品测量。
主要技术指标
近红外光谱透反射性能测量系统


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