
TH2638系列高速精密电容测量仪是具有高达1MHz测试频率的新型电容测量仪,体积小,紧凑便携,便于上架使用。4.3寸的LCD屏幕可选中英文操作界面,操作方便快捷。 TH2638系列测量电容基本精度为±0.07%,损耗精度高达0.0005,最高速度高达2.3ms;超宽的量程配置,使得TH2638系列能够精确测量从低值到高值的各类电容;超宽的输出阻抗范围和信号电平补偿功能,特别适合于用稳定的测试电
更新时间:2025-11-08TH2638系列高速精密电容测量仪是具有高达1MHz测试频率的新型电容测量仪,体积小,紧凑便携,便于上架使用。4.3寸的LCD屏幕可选中英文操作界面,操作方便快捷。 TH2638系列测量电容基本精度为±0.07%,损耗精度高达0.0005,最高速度高达2.3ms;超宽的量程配置,使得TH2638系列能够精确测量从低值到高值的各类电容;超宽的输出阻抗范围和信号电平补偿功能,特别适合于用稳定的测试电
更新时间:2025-11-08TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。 TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,标配了压电导纳
更新时间:2025-11-08TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。 TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,标配了压电导纳
更新时间:2025-11-08TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前的自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。 TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,标配了压电导纳
更新时间:2025-11-08TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前的自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。 TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,标配了压电导纳
更新时间:2025-11-08TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。 TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,标配了压电导纳
更新时间:2025-11-08TH2839系列采用阻抗测量范围较宽的自动平衡电桥技术,其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的频率范围可以满足元件与材料的测量要求,是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强有力的工具。TH2839以其性能可以实现商业标准和标准如IEC和MIL标准的各种测试。
更新时间:2025-11-08TH2839系列采用阻抗测量范围较宽的自动平衡电桥技术,其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的频率范围可以满足元件与材料的测量要求,是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强有力的工具。TH2839以其性能可以实现商业标准和标准如IEC和MIL标准的各种测试。
更新时间:2025-11-08TH2838-GPIB TH2838是采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、20Hz-2MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器
更新时间:2025-11-08