TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前的自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。 TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,标配了压电导纳
更新时间:2025-04-12TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。 TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,标配了压电导纳
更新时间:2025-04-12TH2839系列采用阻抗测量范围较宽的自动平衡电桥技术,其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的频率范围可以满足元件与材料的测量要求,是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强有力的工具。TH2839以其性能可以实现商业标准和标准如IEC和MIL标准的各种测试。
更新时间:2025-04-12TH2839系列采用阻抗测量范围较宽的自动平衡电桥技术,其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的频率范围可以满足元件与材料的测量要求,是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强有力的工具。TH2839以其性能可以实现商业标准和标准如IEC和MIL标准的各种测试。
更新时间:2025-04-12TH2838-GPIB TH2838是采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、20Hz-2MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器
更新时间:2025-04-12TH2838/TH2838H/TH2838A是采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、20Hz-2MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器
更新时间:2025-04-12TH2838/TH2838H/TH2838A是采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、20Hz-2MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器
更新时间:2025-04-12TH2838/TH2838H/TH2838A是采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、20Hz-2MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器
更新时间:2025-04-12TH2836是采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、4Hz-8.5MHz的频率范围。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。 TH2836支持2V交流测试信号和10V直流偏置的高功率测试条件、增强的多参数列表扫描/多参数图形分析能力将有利
更新时间:2025-04-12TH283X系列是新一代低预算成本,高性能紧凑型LCR数字电桥,采用最新工艺和高密度电路设计,浓缩大型LCR测试仪的精华、紧凑、小巧。取消传统机械电源开关,采用软件控制电源开关。0.05%的基本精度和良好的测试稳定性可与机型媲美。配备4.3寸LCD显示屏和全新升级的界面系统,美观大方,操作简便。仪器提供丰富的接口,兼容标准SCPI指令,可方便地组成各种测试系统,满足检验、生产、科研的各种需求。
更新时间:2025-04-12